W pracy przedstawiono nowe podejście do korekcji rezystorów warstwowych polegające na wytwarzaniu dodatkowego kontaktu w celu rozszerzenia zakresu korekcji i uproszczenia projektowania. Ponadto zaprezentowano nową szybką metodę wyznaczania charakterystyk korekcyjnych a także weryfikację eksperymentalną. Przedstawiono wyniki w postaci zakresów korekcji i względnych przyrostów rezystancji w funkcji kształtu dodatkowego kontaktu oraz długości nacięcia laserowego. Porównano stabilność długoterminową, długości pobudzenia impulsowego i szumy niskoczęstotliwościowe dla rezystorów 2- i 3-kontaktowych.
Autorzy
- dr inż. Marek Wroński link otwiera się w nowej karcie ,
- Sławomir Kamiński,
- Edward Miś,
- Andrzej Dziedzic
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2005
