Przedstawiono wyniki badań skażenia powierzchni żeliwa sferoidalnego mikroziarnami węglika krzemu po docieraniu. Określowo wpływ współczynnika upakowania mikroziaren w strefie docierania na intensywność skażenia powierzchni ścierniwem. W badaniach wykorzystano powierzchniową mikroanalizę rentgenowską.
Authors
Additional information
- Category
- Aktywność konferencyjna
- Type
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language
- angielski
- Publication year
- 2006
