Przedstawiono wyniki badań skażenia powierzchni żeliwa sferoidalnego mikroziarnami węglika krzemu po docieraniu. Określowo wpływ współczynnika upakowania mikroziaren w strefie docierania na intensywność skażenia powierzchni ścierniwem. W badaniach wykorzystano powierzchniową mikroanalizę rentgenowską.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Aktywność konferencyjna
- Typ
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2006
Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Surface contamination after lapping by abrasive material" link otwiera się w nowej karcie
