Zaproponowano klasyfikację przyrządów półprzewodnikowych do grup o zróżnicowanej jakości na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości. Przedstawiono metodologię umożliwiającą stwierdzenie, czy zaproponowany parametr szumowy X dla danego typu przyrządu półprzewodnikowego może być stosowany do określenia jakości. Sprecyzowano przebieg badań wstępnych bazujących na ocenie wyników pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości odpowiednio dobranych dwóch prób tendencyjnych składających się z badanych przyrządów. Przytoczono propozycję oszacowania K progów parametru Xthi i = 1,2,...,K w celu podziału danego typu przyrządów półprzewodnikowych na grupy o zróżnicowanej jakości, np. na przyrządy o bardzo dobrej jakości, przyrządy o dobrej jakości, przyrządy o średniej jakości, przyrządy o miernej jakości.Zaproponowana metodyka i procedury badań należy zaliczyć do niedestrukcyjnych.
Authors
Additional information
- DOI
- Digital Object Identifier link open in new tab 10.1016/j.microrel.2006.12.002
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Language
- angielski
- Publication year
- 2008
