Zaproponowano klasyfikację przyrządów półprzewodnikowych do grup o zróżnicowanej jakości na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości. Przedstawiono metodologię umożliwiającą stwierdzenie, czy zaproponowany parametr szumowy X dla danego typu przyrządu półprzewodnikowego może być stosowany do określenia jakości. Sprecyzowano przebieg badań wstępnych bazujących na ocenie wyników pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości odpowiednio dobranych dwóch prób tendencyjnych składających się z badanych przyrządów. Przytoczono propozycję oszacowania K progów parametru Xthi i = 1,2,...,K w celu podziału danego typu przyrządów półprzewodnikowych na grupy o zróżnicowanej jakości, np. na przyrządy o bardzo dobrej jakości, przyrządy o dobrej jakości, przyrządy o średniej jakości, przyrządy o miernej jakości.Zaproponowana metodyka i procedury badań należy zaliczyć do niedestrukcyjnych.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- DOI
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego link otwiera się w nowej karcie 10.1016/j.microrel.2006.12.002
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2008
