W artykule przedstawiono teoretyczne podstawy optycznej interferometrii niskokoherentnej i przedyskutowano jej unikatowe właściwości. Opisano w nim opracowany przez autorów system OCT przeznaczony do badań strukturalnych materiałów technicznych. Badania te obejmują także zmiany stanu polaryzacji promieniowania rozproszonego w badanym obiekcie. W artykule zawarto wyniki badań wybranych materiałów silnie rozpraszających promieniowanie optyczne, na przykład ceramik PLZT i kompozytów polimerowych. Dodatkowo opisano również oparte na optycznej interferometrii niskokoherentnej systemy do pomiaru temperatury, przesunięcia i współczynnika załamania. Przedstawiono zaawansowane układy detekcji wykorzystywane w tych systemach, pozwalające na znaczną redukcję szumów, a tym samym na zwiększenie dynamiki pomiarów.
Authors
- dr hab. inż. Jerzy Pluciński link open in new tab ,
- dr inż. Ryszard Hypszer link open in new tab ,
- dr hab. inż. Paweł Wierzba link open in new tab ,
- dr inż. Marcin Strąkowski link open in new tab ,
- prof. dr hab. inż. Małgorzata Szczerska link open in new tab ,
- Maciej Maciejewski,
- dr hab. inż. Bogdan Kosmowski link open in new tab
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Language
- angielski
- Publication year
- 2008
