W artykule przedstawiono teoretyczne podstawy optycznej interferometrii niskokoherentnej i przedyskutowano jej unikatowe właściwości. Opisano w nim opracowany przez autorów system OCT przeznaczony do badań strukturalnych materiałów technicznych. Badania te obejmują także zmiany stanu polaryzacji promieniowania rozproszonego w badanym obiekcie. W artykule zawarto wyniki badań wybranych materiałów silnie rozpraszających promieniowanie optyczne, na przykład ceramik PLZT i kompozytów polimerowych. Dodatkowo opisano również oparte na optycznej interferometrii niskokoherentnej systemy do pomiaru temperatury, przesunięcia i współczynnika załamania. Przedstawiono zaawansowane układy detekcji wykorzystywane w tych systemach, pozwalające na znaczną redukcję szumów, a tym samym na zwiększenie dynamiki pomiarów.
Autorzy
- dr hab. inż. Jerzy Pluciński link otwiera się w nowej karcie ,
- dr inż. Ryszard Hypszer link otwiera się w nowej karcie ,
- dr hab. inż. Paweł Wierzba link otwiera się w nowej karcie ,
- dr inż. Marcin Strąkowski link otwiera się w nowej karcie ,
- prof. dr hab. inż. Małgorzata Szczerska link otwiera się w nowej karcie ,
- Maciej Maciejewski,
- dr hab. inż. Bogdan Kosmowski link otwiera się w nowej karcie
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2008
Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Optical low-coherence interferometry for selected technical applications" link otwiera się w nowej karcie