Przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w częściach analogowych z tolerancjami elementów nieuszkodzonych mieszanych sygnałowo elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń przez aproksymację rodziny pasów lokalizacyjnych. W etapie pomiarowym wewnętrzny licznik mikrokontrolera mierzy czasy trwania impulsów na wyjściach analogowych komparatorów, z których każdy ma inne napięcie progowe. Wejścia tych komparatorów są podłączone do wyjścia badanego układu analogowego pobudzanego impulsem prostokątnym. W ostatnim etapie mikrokontroler dokonuje detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych.
Authors
Additional information
- DOI
- Digital Object Identifier link open in new tab 10.1016/j.measurement.2009.01.014
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Language
- angielski
- Publication year
- 2009
