Przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w częściach analogowych z tolerancjami elementów nieuszkodzonych mieszanych sygnałowo elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń przez aproksymację rodziny pasów lokalizacyjnych. W etapie pomiarowym wewnętrzny licznik mikrokontrolera mierzy czasy trwania impulsów na wyjściach analogowych komparatorów, z których każdy ma inne napięcie progowe. Wejścia tych komparatorów są podłączone do wyjścia badanego układu analogowego pobudzanego impulsem prostokątnym. W ostatnim etapie mikrokontroler dokonuje detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- DOI
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego link otwiera się w nowej karcie 10.1016/j.measurement.2009.01.014
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2009
