Praca zawiera wyniki badań właściwości elektrycznych, optycznych i strukturalnych cienkich warstw ito i sno2. badania wykazały, że cienkie warstwy tlenków metali wykazują rezystywność charakterystyczną dla półprzewodników. poziom transmisji światła w zakresie widzialnym pozwala zaliczyć badane warstwy do materiałów przezroczystych. badane cienkie warstwy wykonano metodą rozpylania magnetronowego.
Authors
- Eugeniusz Prociów,
- dr hab. inż. Marcin Stanisław Łapiński link open in new tab ,
- Jarosław Domaradzki,
- Damian Wojcieszak,
- Karolina Sieradzka,
- Tadeusz Berlicki
Additional information
- Category
- Aktywność konferencyjna
- Type
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language
- angielski
- Publication year
- 2009
Source: MOSTWiedzy.pl - publication "Mobility measurements in oxide semiconductors" link open in new tab
