Praca zawiera wyniki badań właściwości elektrycznych, optycznych i strukturalnych cienkich warstw ito i sno2. badania wykazały, że cienkie warstwy tlenków metali wykazują rezystywność charakterystyczną dla półprzewodników. poziom transmisji światła w zakresie widzialnym pozwala zaliczyć badane warstwy do materiałów przezroczystych. badane cienkie warstwy wykonano metodą rozpylania magnetronowego.
Autorzy
- Eugeniusz Prociów,
- dr inż. Marcin Stanisław Łapiński link otwiera się w nowej karcie ,
- Jarosław Domaradzki,
- Damian Wojcieszak,
- Karolina Sieradzka,
- Tadeusz Berlicki
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Aktywność konferencyjna
- Typ
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2009
Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Mobility measurements in oxide semiconductors" link otwiera się w nowej karcie
