Przedstawiono analityczną metodę doboru optymalnego progu komparatora, różnicującego nieprawidłowe i poprawne odpowiedziukładu testowanego. Obliczenia, wykonywane z uwzględnieniem niepewności pomiaru i tolerancji produkcyjnych, mają na celu uzyskanieoptymalnych poziomów uszkodzeń i straty uzysku. Wykorzystano modele probabilistyczne odpowiedzi układu testowanego i procesu pomiarowego.
Authors
Additional information
- Category
- Aktywność konferencyjna
- Type
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language
- polski
- Publication year
- 2011
Source: MOSTWiedzy.pl - publication "Projektowanie testu układu elektronicznego" link open in new tab
