Przedstawiono analityczną metodę doboru optymalnego progu komparatora, różnicującego nieprawidłowe i poprawne odpowiedziukładu testowanego. Obliczenia, wykonywane z uwzględnieniem niepewności pomiaru i tolerancji produkcyjnych, mają na celu uzyskanieoptymalnych poziomów uszkodzeń i straty uzysku. Wykorzystano modele probabilistyczne odpowiedzi układu testowanego i procesu pomiarowego.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Aktywność konferencyjna
- Typ
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2011
Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Projektowanie testu układu elektronicznego" link otwiera się w nowej karcie
