Zaproponowano nowe podejście do oceny lokalnych właściwości elektrycznych powłok organicznych. Wykorzystuje ono mikroskop sił atomowych pracujący w trybie kontaktowym. Pomiędzy igłę mikroskopu i podłoże metalowe pokryte powłoką przykładany jest sinusoidalny napięciowy sygnał pobudzenia o zadanej częstotliwości i mierzony jest prądowy sygnał odpowiedzi. Zalety tego podejścia zostały zaprezentowane na przykładzie powłoki akrylowej poddanej działaniu dwóch, różnych czynników niszczących - promieniowania ultrafioletowego i ekspozycji na elektrolit. Możliwe było wykrycie wczesnych etapów degradacji powłoki, ich przestrzenne zlokalizowanie i rozróżnienie mechanizmów degradacji tej samej powłoki eksponowanej na różne czynniki degradujące
Authors
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Language
- angielski
- Publication year
- 2012
