Repozytorium publikacji - Politechnika Gdańska

Zaproponowano nowe podejście do oceny lokalnych właściwości elektrycznych powłok organicznych. Wykorzystuje ono mikroskop sił atomowych pracujący w trybie kontaktowym. Pomiędzy igłę mikroskopu i podłoże metalowe pokryte powłoką przykładany jest sinusoidalny napięciowy sygnał pobudzenia o zadanej częstotliwości i mierzony jest prądowy sygnał odpowiedzi. Zalety tego podejścia zostały zaprezentowane na przykładzie powłoki akrylowej poddanej działaniu dwóch, różnych czynników niszczących - promieniowania ultrafioletowego i ekspozycji na elektrolit. Możliwe było wykrycie wczesnych etapów degradacji powłoki, ich przestrzenne zlokalizowanie i rozróżnienie mechanizmów degradacji tej samej powłoki eksponowanej na różne czynniki degradujące

Autorzy

• dr hab. inż. Michał Szociński link otwiera się w nowej karcie ,
• prof. dr hab. inż. Kazimierz Darowicki link otwiera się w nowej karcie ,
• Katarzyna Schaefer link otwiera się w nowej karcie