Przedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształce-niu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w prze-strzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedyn-czych uszkodzeń parametrycznych w pierwszej w kolejności uszkodzonej sekcji filtra.
Authors
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language
- polski
- Publication year
- 2014
