Optyczna tomografia koherentna (OCT) jest metodą obrazowania wewnętrznej struktury obiektów rozpraszających promieniowanie optyczne. Metoda ta wykorzystuje interferometrię niskokoherentą do pomiaru czasu przelotu promieniowania wstecznie rozproszonego od elementów struktury obrazowanego obiektu z rozdzielczością w zakresie od jednego do kilkunastu mikrometrów. Rozprawa dotyczy dwóch rozszerzeń metody OCT. Pierwsze z nich – polaryzacyjna optyczna tomografia koherentna (PS-OCT) pozwala na pomiar stanu polaryzacji promieniowania, co z kolei umożliwia pomiar dwójłomności badanego obiektu. Drugie – spektroskopowa optyczna tomografia koherentna (S-OCT) wykorzystuje czasowo-częstotliwościową analizę sygnału interferencyjnego do jednoczesnego pomiaru czasu przelotu i widmowej gęstości mocy promieniowania. Wykorzystując analizy numeryczne i wyniki eksperymentalne, autor rozprawy pokazuje, że właściwe wykorzystanie techniki S-OCT pozwala na obserwację w obrazie obecności struktur o grubościach mniejszych niż pozwala na to wyłącznie klasyczne przetwarzanie sygnału interferencyjnego. Ponadto, analizując skany OCT warstw polimerowych i ciekłokrystalicznych autor pokazuje, że połączenie metod PS-OCT i S-OCT pozwala na pomiar dwójłomności warstw, wprowadzających między promieniowanie o dwóch ortogonalnych stanach polaryzacji bardzo duże kąty retardacji fazowej (większe niż 180°), co nie jest możliwe przy wykorzystaniu wyłącznie metody PS-OCT.
Authors
Additional information
- Category
- Doktoraty, rozprawy habilitacyjne, nostryfikacje
- Type
- praca doktorska pracowników zatrudnionych w PG oraz studentów studium doktoranckiego
- Language
- polski
- Publication year
- 2019
