Wzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych układów elektronicznych. Połączone wysiłki wielu firm i ośrodków badawczych doprowadziły do opracowania międzynarodowej normy IEEE1149.1 o nazwie "IEEE Standard TestAccess Port and Bounary-Scan Architekture".
Authors
- Maria Borkowska link open in new tab ,
- Marek Gonera,
- Jerzy Kern
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language
- polski
- Publication year
- 2002
