Wzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych układów elektronicznych. Połączone wysiłki wielu firm i ośrodków badawczych doprowadziły do opracowania międzynarodowej normy IEEE1149.1 o nazwie "IEEE Standard TestAccess Port and Bounary-Scan Architekture".
Autorzy
- Maria Borkowska link otwiera się w nowej karcie ,
- Marek Gonera,
- Jerzy Kern
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2002
Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą" link otwiera się w nowej karcie
