Omówiono rodzaje zakłóceń w pomiarach szumów struktur elementów półprzewodnikowych, oraz metody zapobiegania. Opisano metodę programowego rozdzielania składowej losowej i okresowej sygnału pomiarowego oraz sposób eliminacji wpływu fluktuacji rezystancji kontaktów na wyniki pomiarów.
Authors
Additional information
- Category
- Aktywność konferencyjna
- Type
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language
- polski
- Publication year
- 2003
