Omówiono rodzaje zakłóceń w pomiarach szumów struktur elementów półprzewodnikowych, oraz metody zapobiegania. Opisano metodę programowego rozdzielania składowej losowej i okresowej sygnału pomiarowego oraz sposób eliminacji wpływu fluktuacji rezystancji kontaktów na wyniki pomiarów.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Aktywność konferencyjna
- Typ
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2003
