Przedstawiono wyniki pomiaru szumów 1/f tranzystorów z GaAs i ich analizę w spektroskopii. Opisano procedurę klasyfikacji na grupy o zróżnicowanej jakości półprzewodnikowych elementów mocy na podstawie wyników pomiaru szumów małoczęstotliwościowych. Szumy elektrochemiczne stanowią dogodne narzędzie do analizy korozji, zwłaszcza korozji wżerowej. Przedstawiono wyniki pomiaru szumów ogniw słonecznych i ich porównanie z analizą niejednorodności badanych próbek półprzewodnikowych. Opisano technikę diagnostyki obiektów na podstawie analizy sygnałów emisji akustycznej i elektromagnetycznej.
Authors
- Zdenek Chobola,
- dr inż. Lech Hasse link open in new tab ,
- Josef Sikula,
- prof. zw. dr hab. inż. Ludwik Spiralski link open in new tab
Additional information
- Category
- Publikacja w czasopiśmie
- Type
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language
- polski
- Publication year
- 2004
