Przedstawiono wyniki pomiaru szumów 1/f tranzystorów z GaAs i ich analizę w spektroskopii. Opisano procedurę klasyfikacji na grupy o zróżnicowanej jakości półprzewodnikowych elementów mocy na podstawie wyników pomiaru szumów małoczęstotliwościowych. Szumy elektrochemiczne stanowią dogodne narzędzie do analizy korozji, zwłaszcza korozji wżerowej. Przedstawiono wyniki pomiaru szumów ogniw słonecznych i ich porównanie z analizą niejednorodności badanych próbek półprzewodnikowych. Opisano technikę diagnostyki obiektów na podstawie analizy sygnałów emisji akustycznej i elektromagnetycznej.
Autorzy
- Zdenek Chobola,
- dr inż. Lech Hasse link otwiera się w nowej karcie ,
- Josef Sikula,
- prof. zw. dr hab. inż. Ludwik Spiralski link otwiera się w nowej karcie
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Język
- polski
- Rok wydania
- 2004
