W kontekście oscylacyjnej metody testowania zaproponowano prostą i mało kosztowną metodę testowania oscylatorów poprzez porównanie fragmentu generowanego przebiegu z wzorcowym przebiegiem sinusoidalnym. Metoda bazuje na odejmowaniu dwu sygnałów zmodulowanych techniką sigma-delta za pomocą subtraktora wykorzystujacego nadpróbkowanie i kształtowanie szumów. Sygnaturą uszkodzeń jest wartość średnia 1 bitowego strumienia danych, wyznaczana za pomocą licznika rewersyjnego. Wyniki symulacji uzyskane na przykładzie oscylatora Van der Pola wykazują, że proponowana sygnatura jest wrażliwa na odchyłki częstotliwości i amplitudy drgań, a także wykrywa oscylacje nieliniowe.
Authors
Additional information
- Category
- Aktywność konferencyjna
- Type
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language
- angielski
- Publication year
- 2005
