W kontekście oscylacyjnej metody testowania zaproponowano prostą i mało kosztowną metodę testowania oscylatorów poprzez porównanie fragmentu generowanego przebiegu z wzorcowym przebiegiem sinusoidalnym. Metoda bazuje na odejmowaniu dwu sygnałów zmodulowanych techniką sigma-delta za pomocą subtraktora wykorzystujacego nadpróbkowanie i kształtowanie szumów. Sygnaturą uszkodzeń jest wartość średnia 1 bitowego strumienia danych, wyznaczana za pomocą licznika rewersyjnego. Wyniki symulacji uzyskane na przykładzie oscylatora Van der Pola wykazują, że proponowana sygnatura jest wrażliwa na odchyłki częstotliwości i amplitudy drgań, a także wykrywa oscylacje nieliniowe.
Autorzy
Informacje dodatkowe
- Kategoria
- Aktywność konferencyjna
- Typ
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2005
Źródło danych: MOSTWiedzy.pl - publikacja "Testing oscillators by waveform comparison with the ideal sine-wave" link otwiera się w nowej karcie
