The paper reports controlled deposition of optically transparent and electrically conductive ITO films prepared by a combination of rf (13.56 MHz) and High Power Impulse Magnetron Sputtering (HiPIMS) systems without any post deposition thermal treatment/annealing. It is shown that (i) reactive admixture of N2 gas to the process and (ii) pressure in the deposition chamber enable to optimize optical properties of ITO films. Furthermore, the changes of electrical resistivity were observed, too. The variation of these ITO properties are attributed to change of crystalline structure measured by XRD methods.
Autorzy
- Vitezslav Stranak,
- dr hab. inż. Robert Bogdanowicz link otwiera się w nowej karcie ,
- Petr Sezemsky,
- Harm Wulff,
- Angela Kruth,
- Mateusz Smietana,
- Jiri Kratochvil,
- Martin Cada,
- Zdenek Hubicka
Informacje dodatkowe
- DOI
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego link otwiera się w nowej karcie 10.1016/j.surfcoat.2017.12.030
- Kategoria
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2018