We present results of the probability distribution analysis of flicker noise generated in Au nanoparticle (AuNP) decorated graphene–Si Schottky barrier diodes with and without yellow light illumination (592 nm), close to the localized surface plasmon resonance in the AuNPs (586 nm). The AuNPs occupy imperfections in the single-layer graphene and reduce the flicker noise intensity generated in the graphene layer. The estimated probability distribution exhibited an asymmetry shift when the sample was irradiated by yellow light (a 10-fold increase of the skewness coefficient). This effect is attributed to AuNPs collecting low-frequency fluctuations in the graphene layer and reducing 1/f noise.
Autorzy
- prof. dr hab. inż. Janusz Smulko link otwiera się w nowej karcie ,
- dr inż. Andrzej Kwiatkowski link otwiera się w nowej karcie ,
- mgr inż. Katarzyna Drozdowska link otwiera się w nowej karcie ,
- Lars Österlund,
- Tesfalem Welearegay,
- Adil Rehman,
- Sergey Rumyantsev
Informacje dodatkowe
- DOI
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego link otwiera się w nowej karcie 10.1109/icnf57520.2023.10472774
- Kategoria
- Aktywność konferencyjna
- Typ
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język
- angielski
- Rok wydania
- 2023